半导体参数测试仪
[ 基础信息 ]
生产国家 :
制造厂商 :
购置日期 : 2020-10-30
规格型号 : keithley 4200A
[ 分类信息 ]
设备类型 : 电学表征, 半导体参数测试仪
设备编号 :
[ 联系信息 ]
联系人 : 朱丽萍
存放地址 : 五楼操作平台1
联系电话 :
联系邮箱 :
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :
无
主要功能及特色 :
电学特性测量设备，可实现I-V和C-V等特性表征。
主要规格及技术指标 :
源测量单元：4个源测量单元
I-V测量最大电流： 100mA。
I-V测量最小分辨率：最小分辨率为0.1fA。
I-V测量最大电压：200V。
C-V测量：扫频范围1KHz-10MHz，偏置电压±60V。
