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常用的光学表征与测试技术。通过一定波长的激光激发样品中的电子跃迁,探测该过程中在材料内部发生的各种拉曼散射以及荧光信号,从而得到材料内部的电子能级,能带结构,声子等物理信息。是低维半导体,复杂电子体系,石墨烯等前沿领域必不可少的研究与表征设备。常用的光学表征与测试技术。通过一定波长的激光激发样品中的电子跃迁,探测该过程中在材料内部发生的各种拉曼散射以及荧光信号,从而得到材料内部的电子能级,能带结构,声子等物理信息。是低维半导体,复杂电子体系,石墨烯等前沿领域必不可少的研究与表征设备。
主要用于测量拉曼,荧光信号。
光谱分辨率:0.65 波数( 585 nm )
光谱重复性:0.2 波数
空间分辨率:横向1um, 纵向2um
光谱范围:50-9000波数
配备325 nm,532nm,633nm,785nm激光
探测器:CCD,InGaAs探测器